X射线晶体分析仪
的有关信息介绍如下：
X射线晶体分析仪利用背射劳厄照相，底片安装在晶体与射线源之间，而入射光束则在底片上的小孔通过，所记录的为向后方向上的衍射光束，用衍射光束的方向来测量未知晶体单位晶胞的的形状和大小，以测定晶体的取向和评定晶体的完善性。
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