JTAG
的有关信息介绍如下：
JTAG是联合测试工作组（Joint Test Action Group）的简称，是在名为标准测试访问端口和边界扫描结构的IEEE的标准1149.1的常用名称。此标准用于验证设计与测试生产出的印刷电路板功能。
1990年JTAG正式由IEEE的1149.1-1990号文档标准化，在1994年，加入了补充文档对边界扫描描述语言（BSDL）进行了说明。从那时开始，这个标准被全球的电子企业广泛采用。边界扫描几乎成为了JTAG的同义词。
在设计印刷电路版时，当前最主要用在测试集成电路的副区块，而且也提供一个在嵌入式系统很有用的调试机制，提供一个在系统中方便的"后门"。当使用一些调试工具像电路内模拟器用JTAG当做信号传输的机制，使得程序员可以经由JTAG去读取集成在CPU上的调试模块。调试模块可以让程序员调试嵌入式系统中的软件。
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